• 將STIL數(shù)字矢量（IEEE-1450，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言文件）導(dǎo)入和轉(zhuǎn)換為MTS數(shù)字矢量格式
• 將WGL數(shù)字矢量（TSSI波形生成語(yǔ)言文件）導(dǎo)入并轉(zhuǎn)換為MTS數(shù)字矢量格式
• 將VCD/EVCD數(shù)字矢量（IEEE-1364，值改變轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件）導(dǎo)入和轉(zhuǎn)換為MTS數(shù)字矢量格式
• 支持Marvin測(cè)試解決方案的GX529x和GX5055 PXI數(shù)字儀器
• 引腳重映射支持引腳分配和忽略功能
• 定義的配置文件支持存儲(chǔ)的導(dǎo)入設(shè)置，簡(jiǎn)化了多個(gè)/重復(fù)的文件導(dǎo)入/轉(zhuǎn)換
• DIOEasy配合使用許可證

應(yīng)用：

• 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
• 數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)
• 混合信號(hào)測(cè)試儀
• 數(shù)字模擬系統(tǒng)
• 混合和SoC組件測(cè)試

概述

Marvin Test Solutions的DIOEasy-FIT選項(xiàng)為測(cè)試工程師提供了一個(gè)用于將STIL，WGL，VDC / EVCD文件導(dǎo)入和轉(zhuǎn)換為Marvin Test Solutions數(shù)字儀器文件格式的軟件工具。DIOEasy-FIT與Marvin Test Solutions的DIOEasy波形顯示和編輯軟件配合使用，為所有MTS動(dòng)態(tài)數(shù)字儀器的開(kāi)發(fā)，調(diào)試和執(zhí)行數(shù)字測(cè)試向量提供了一個(gè)有效的工具集。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言（STIL，IEEE-1450）由幾家測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商，計(jì)算機(jī)輔助工程（CAE），計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）和集成電路（IC）供應(yīng)商的聯(lián)盟開(kāi)發(fā)。該標(biāo)準(zhǔn)提供了將數(shù)字測(cè)試數(shù)據(jù)向量從設(shè)計(jì)環(huán)境傳輸?shù)綔y(cè)試環(huán)境的通用語(yǔ)言。

波形生成語(yǔ)言（WGL）發(fā)音為“wiggle”，是由Test System Strategies Inc.（TSSI）創(chuàng)建的數(shù)據(jù)描述語(yǔ)言。WGL文件本質(zhì)上是一個(gè)包含信號(hào)模式以及定時(shí)，診斷和其他信息的文本文件。工程師通常使用WGL矢量格式來(lái)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試階段對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行測(cè)試。 這些向量由電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）工具生成，用于測(cè)試設(shè)備并驗(yàn)證其物理實(shí)現(xiàn)與模擬中獲得的結(jié)果是否匹配。

VCD和EVCD文件格式是IEEE-1364（IEEE標(biāo)準(zhǔn)Verilog?硬件描述語(yǔ)言）的一部分。擴(kuò)展VCD（EVCD，IEEE-1364-2001）是VCD文件格式的較新版本，并支持定向數(shù)據(jù)。

DIOEasy-FIT和GTDIO庫(kù)提供導(dǎo)入上述文件并將其轉(zhuǎn)換為DIO文件格式的功能，然后可以將其加載到DIO板卡中。導(dǎo)入文件時(shí)，用戶可以指定數(shù)字儀器步速的時(shí)鐘速率；（例如，默認(rèn)值為10ns（100MHz）是GX5292板最快的時(shí)鐘頻率）。如果指定的時(shí)鐘速率太慢并且不能滿足導(dǎo)入文件中定義的定時(shí)約束（例如，時(shí)鐘>UUT輸出探測(cè)窗口等），則返回錯(cuò)誤。生成的DIO文件支持激勵(lì)/響應(yīng)和實(shí)時(shí)比較（RTC）操作模式。