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MTEK系列傳統測試系統升級解決方案

  • 傳統半導體測試系統的升級版
  • 基于PXI的,高性價比的開放式架構及解決方案
  • 兼容傳統測試平臺,包括Teradyne,LTX / Credence和Verigy
  • 輕松添加性能:RF測試,數字測試和模擬測試
 

概述

MTEK(Marvin Test Expansion Kit? Marvin測試擴展套件)系列是一個高性價比,PXI總線的測試解決方案,提供先進規格的現代化儀器,延長了傳統ATE的使用壽命和功能。基于Marvin測試解決方案的PXI機箱和儀器系列產品,MTEK系列可以輕松地與傳統的ATE平臺集成,提供先進的數字,模擬或RF測試功能。基于PXI的開放架構,MTEK系統提供了靈活和可擴展的解決方案,可以專門配置為解決封裝和晶圓測試應用的一系列測試需求。旨在支持工程和大批量生產設備,MTEK系列是延長傳統半導體ATE系統壽命周期的理想的低成本解決方案。

軟件

MTEK系統配有Windows?兼容的儀器驅動程序和虛擬儀表板,可從顯示儀器當前設置和狀態的窗口提供儀器的交互式控制和監控。此外,數字儀器還提供圖形矢量開發/波形顯示工具,作為選項,文件導入工具可用于導入和轉換STIL,WGL,VCD,eVCD和ATP文件格式。

 

特征

MTEK系列核心平臺包括9槽PXI Express機箱和MXI接口,為主機ATE系統提供控制接口。

8個外設插槽可用于支持PXI和PXI Express儀器。可用的PXI儀器提供模擬和數字功能,包括:

  • 6.5位數字萬用表(DMM)
  • 高性能數字I/O與每個引腳的PMU
  • 20MS/s采樣率AWG(任意波形發生器)
  • 70 MS/s采樣率數字化儀
  • 射頻信號發生器和分析儀

MTEK的緊湊型外形簡化了與舊式測試系統的機械集成,用戶可以選擇通過DUT的負載板或測試儀的接收器接口來連接MTEK的資源。

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