概述
Marvin Test Solutions的DIOEasy-FIT選項為測試工程師提供了一個用于將STIL，WGL，VDC / EVCD文件導入和轉換為Marvin Test Solutions數字儀器文件格式的軟件工具。DIOEasy-FIT與Marvin Test Solutions的DIOEasy波形顯示和編輯軟件配合使用，為所有MTS動態數字儀器的開發，調試和執行數字測試向量提供了一個有效的工具集。
標準測試接口語言（STIL，IEEE-1450）由幾家測試設備供應商，計算機輔助工程（CAE），計算機輔助設計（CAD）和集成電路（IC）供應商的聯盟開發。該標準提供了將數字測試數據向量從設計環境傳輸到測試環境的通用語言。
波形生成語言（WGL）發音為“wiggle”，是由Test System Strategies Inc.（TSSI）創建的數據描述語言。WGL文件本質上是一個包含信號模式以及定時，診斷和其他信息的文本文件。工程師通常使用WGL矢量格式來在產品開發的設計驗證和生產測試階段對半導體器件進行測試。 這些向量由電子設計自動化（EDA）工具生成，用于測試設備并驗證其物理實現與模擬中獲得的結果是否匹配。 |
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VCD和EVCD文件格式是IEEE-1364（IEEE標準Verilog?硬件描述語言）的一部分。擴展VCD（EVCD，IEEE-1364-2001）是VCD文件格式的較新版本，并支持定向數據。
DIOEasy-FIT和GTDIO庫提供導入上述文件并將其轉換為DIO文件格式的功能，然后可以將其加載到DIO板卡中。導入文件時，用戶可以指定數字儀器步速的時鐘速率；（例如，默認值為10ns（100MHz）是GX5292板最快的時鐘頻率）。如果指定的時鐘速率太慢并且不能滿足導入文件中定義的定時約束（例如，時鐘>UUT輸出探測窗口等），則返回錯誤。生成的DIO文件支持激勵/響應和實時比較（RTC）操作模式。 |
